產(chǎn)品分類
Product CategorySuperViewW1系列光學(xué)表面輪廓儀采用了掃描模塊和內(nèi)部抗振設(shè)計,可實(shí)現(xiàn)高0.05%的測量精度重復(fù)性和0.002nm的粗糙度RMS重復(fù)性,詮釋始終如一的測量品質(zhì)。
光學(xué)輪廓儀是以白光干涉技術(shù)原理,對各種精密器件表面進(jìn)行納米級測量的儀器,通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌,專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。
中圖儀器研發(fā)生產(chǎn)的光學(xué)三維表面形貌儀價格實(shí)惠,提供二維分析、三維分析、表面紋理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、體積、角度計算、曲率計算、模擬一維分析、數(shù)據(jù)輸出、數(shù)據(jù)自動動態(tài)存儲、自定義數(shù)據(jù)顯示格式等功能。
中圖三維光學(xué)表面輪廓儀品牌采用白光軸向色差原理,利用白光干涉掃描技術(shù)為基礎(chǔ)制成的SuperViewW1是一種用于對樣品表面進(jìn)行快速、重復(fù)性高、高分辨率的三維檢測的精密儀器,它的特點(diǎn)是可以達(dá)到納米級的檢測精度。測量范圍從納米級粗糙度到毫米級的表面形貌,可以快速獲取數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測,主要用于成品質(zhì)量的管理,確保良品合格率。
SuperViewW1光學(xué)形貌測量儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等,提供依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT四大國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)共計300余種2D、3D參數(shù)作為評價標(biāo)準(zhǔn)。
SuperView W1光學(xué)輪廓儀可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。
SuperView W3光學(xué)3D輪廓儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器。
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