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中圖儀器chotest白光干涉儀用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。它以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數。

CEM3000系列國產臺式電鏡空間分辨率出色和易用性強，用戶能夠非常快捷地進行各項操作。甚至在自動程序的幫助下，無需過多人工調節，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。無需占據大量空間來容納整個電鏡系統，這使其甚至能夠出現在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現所得結果。

中圖儀器國內高抗振性臺式掃描電鏡CEM3000系列用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析。其抗振設計，在充滿機械振動和噪音的工業環境中依舊穩如泰山，拍攝出清晰、高分辨率的圖像；還運用了快速抽放氣設計，讓用戶在使用時不再等待，且全系列可選配低真空系統，以便精準調節樣品倉內真空度，滿足不同樣品的觀測需求。

NS系列涂層薄膜測量臺階儀是利用光學干涉原理，通過測量膜層表面的臺階高度來計算出膜層的厚度，具有測量精度高、測量速度快、適用范圍廣等優點。它可以測量各種材料的膜層厚度，包括金屬、陶瓷、塑料等。

CEM3000毫米級超大景深桌面掃描電鏡具有出色的電子光學系統，優于4nm的空間分辨率，保證了高放大倍數下的清晰成像，用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析，能夠滿足納米尺度的形貌觀測需求。其抗振設計，在充滿機械振動和噪音的工業環境中依舊穩如泰山，拍攝出清晰、高分辨率的圖像。

VT6000高分辨率成像共聚焦顯微鏡以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像。橫向分辨率高，所展現的放大圖像細節要高于常規的光學顯微鏡。更擅長微納級粗糙輪廓的檢測。

SuperViewW白光干涉表面微觀形貌檢測系統通過干涉物鏡產生干涉條紋，使基本的光學顯微鏡系統變為白光干涉輪廓儀。它能以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

NS系列軟膜材料臺階高度測量儀是利用光學干涉原理，通過測量膜層表面的臺階高度來計算出膜層的厚度，具有測量精度高、測量速度快、適用范圍廣等優點。它可以測量各種材料的膜層厚度，包括金屬、陶瓷、塑料等。